一、水稻整穗考種測量系統介紹:
水稻整穗考種測量系統采用先進的圖像處理技術,對單位面積穗數、水稻 穗粒數、一/二次枝梗數量、長度測量、著粒密度、 每穗的穗粒數和千粒重構成,為水稻形態學的研究、 水稻良種選育提供良好的檢測工具。 配置:采集器一臺,背板一套。
二、水稻整穗考種測量系統功能特點:
1、多參數批量分析:一鍵化自動分析各枝梗穗粒數、一次枝梗長度和對應穗粒數、二次枝梗長度和對應穗粒數、枝梗著粒密度、穗著粒密度以及平均值等,共測量23個參數指標。
2、枝??烧w或者分步分析:一次枝梗和二次枝??蓡为毞治?,也可同時分析。
3、LED 背光光源裝置:能夠去除種子陰影和雜質,背光清晰
4、自動換成千粒重:可通過識別的種子粒數,輸入重量,可自動換算出千粒重。
5、數據采集方式:可多點快速取樣,數據可批量分析并獲取平均值。
6、比例尺自動矯正:任意手機可拍照,且拍攝成像視角可以被自動矯正,避免了拍照變形誤差。
7、智能修正:動觸摸屏幕進行修正,使結果更精準,可達100%。
8、數據查看:數據查看多樣化,拍照分析后即可查看結果,也可在歷史記錄中查看數據報表。
9、數據導出和共享:支持數據修正、查詢、編輯和導出,數據可導出Excel格式,并可分享至微信、QQ或者釘釘,便于多應用方式查看數據。
10、動態加密:可通過驗證碼進行加密,一個賬號可在多個手機上使用,但不能同時使用。
三、水稻整穗考種測量系統技術參數:
適用范圍:水稻室內考種時期,對水稻穗部形態和千粒重測量
外形尺寸:水稻整穗考種外形尺寸 460*360*16mm
A4背光板尺寸:33.5*23.3*0.4(cm)
測量誤差:穗長:≤±2%
總穗粒數:≤±2%
各枝梗長度:≤±3mm
千粒重誤差±2‰,修正后可達100%
四、水稻整穗考種測量系統硬件配置:
水稻整穗考種背板裝置:黑色磨砂材質
背光板:發光超薄背板
數據采集器:超大彩色屏手機